極低温高分解能透過電子顕微鏡

ナノ微細構造解析装置群

装置番号/ARIM設備ID D01/KT-401
装置名 極低温高分解能透過電子顕微鏡
Ultralow-Temperature High-Resolution Transmission Electron Microscope
極低温高分解能透過電子顕微鏡
製造社名 日本電子(株) (https://www.jeol.co.jp/)
品名・型番 JEM-2100F(G5)
特徴

試料温度を液体ヘリウム温度に保って観察が可能です。クライオトランスファー機構を備え、試料を急速冷凍後、外気にさらさずに導入可能です。

キーワード 極低温TEM観察, ヘリウム温度, 連続4時間, 照射ダメージ低減, 液中構造観察
設置場所

宇治地区 33. 極低温超高分解能電子顕微鏡室 9-1号室

装置利用料金

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仕様

分解能 0.2 nm
加速電圧 200 kV
ヘリウムステージ ヘリウム保持時間:4時間
電子銃 ZrO/W(100)FEG
CCD Camera 2048×2048 pixel

参考画像

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溶液内構造体の観察

1枚目:界面活性剤が水溶液中で形成するミセル・ベシクル

2枚目:サクラン(天然超巨大ポリアニオン)金属複合体の水中での形態観察 M. Okajima, et al.; Biomacromolecules,, 11, 3172-3177 (2010).

3枚目:塩化金酸の水溶液中での還元による金ナノロッドの成長過程 成長途中で水溶液を急速凍結して観察した疑似的時間変化

 

試料を極低温にすることにより電子線損傷を軽減しての有機物の観察

4枚目:フラーレン誘導体の高分解能観察 Zhang X,et al .; Chem. Commun ., 46, 8752-8754 (2010).

5枚目:人工亜鉛クロロフィル集合体の超分子ナノシート S. Shoji et al ., Sci. Rep ., 9 , [14006-1]-[14006-8], (2019)

6枚目:人工金属クロロフィルのナノチューブ自己集積体 S. Shoji et al., Nano Lett. 16, 3650-3654 (2016)

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