走査型プローブ顕微鏡システム
ナノ材料分析・評価装置群
| 装置番号／ARIM設備ID | C04／KT-304 |
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| 装置名 | 走査型プローブ顕微鏡システム Bioscience Atomic Force Microscope |
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| 製造社名 | JPKインスツルメンツ (https://www.bruker.com/de/products-and-solutions/microscopes/bioafm.html?utm_source=JPK) |
| 品名・型番 | 原子間力顕微鏡 NanoWizard III NW3-XS-O |
| 特徴 | ・大気中または液体中でのAFM計測 |
| キーワード | |
| 設置場所 | 国際科学イノベーション棟 |
| 装置利用料金 | こちらをご覧ください |
仕様
| ピエゾステージスキャンレンジ | X100um, Y100um, Z15 um |
| ピエゾステージ(XYZ)位置制御分解能 | 1 nm (Closed roop) |
| 最小フォース感度 | 2 pN |
| カンチレバー検出帯域 | 8 MHz |
| AFM測定モード | ラテラルフォース、コンタクト、ノンコンタクト、 位相、 フォースディスタンス、フォースクランプ、 高速フォースマッピング |
| 顕微鏡ステージ稼働距離 | 20×20m㎡ |
| 使用可能サンプル形態 | スライドガラス、シャーレ、カバーガラスなど観察面が水平なもの。また、直径15㎝の円盤の場合、中央部のみを観察可能 |