シリコン犠牲層ドライエッチングシステム

ナノ材料加工・創造装置群

装置番号/ARIM設備ID B13/KT-213
装置名 シリコン犠牲層ドライエッチングシステム
Vapor XeF 2 Release Etcher
シリコン犠牲層ドライエッチングシステム
製造社名 XACTIX社
品名・型番 シリコン犠牲層ドライエッチング装置 Xetch X3B
特徴

フッ化キセノン(XeF2)により、Siを常圧、非プラズマ条件下でドライエッチングすることができます。
SiO2やSi3N4AIなどに対して、全くエッチング作用がないため、高選択比エッチングが可能。

キーワード
設置場所

総合研究6号館 クリーンルーム2

装置利用料金

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仕様

基板 最大Φ6インチに対応
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